PAT Systeme
Anwendungen der PAT Systeme
In-situ Prozesssteuerung
Partikelgrößenverteilung von Suspensionen
Dynamische Verteilung von Dispersphasensystemen in hohen Konzentration
Messung von trockenen Materialien, wie Pulver und Granulate
ORM Technologie
Grundlagen der ORM Technologie
Die in-situ PAT-Sensoren arbeiten auf der Grundlage der patentierten ORM (Optische Rückreflexionsmessung) Technologie mit der ToF( Time of Flight) Methode. Ein Laserstrahl wird über einem Partikelstrom bewegt. Aus der Zeitspanne , die zum Überstreichen der fokussierten Partikel benötigt wird, wird deren Größe bestimmt.
Je nach Anwendung ist die Fokusbewegung fix, linear oder linear und rotierend aber auch
rotierend mit Autofokus.
Die einzigartige dynamische Fokussierung erlaubt einen großen dynamischen Messbereich von 0,5 bis 2000 µm.
Artefakte und Agglomerate lassen sich mithilfe der Ultraschalldispergierung erfassen, mehr…
Anforderung des Sequip Datenblatts PAT Sensor
Anfrageformular für eine kundenspezifische Konfiguration des PAT Sensor Systems
Je detaillierter wir die Anwendung kennen, um so passgenauer und kosteneffektiver können wir Ihr Messsystem konfigurieren.
PAT Sensor
Modulare Konfigurationsmöglichkeiten
Die modulare Konfigiruation aller Komponenten hat den Vorteil, dass die Sequip Systeme kundenspezifisch ausgerüstet sind und somit für jede mögliche Applikation passgenau zugeschnitten sind.